Nelle TC industriali a fascio conico, si impiega un detettore a pannello piatto altamente dinamico, che acquisisce simultaneamente migliaia di fette, per generare i dati volumetrici dell’intero campione sottoposto a scansione, con una sola rotazione di 360° relativamente veloce. A tutt’oggi, la dispersione, che origina i raggi X spuri che raggiungono la matrice del detettore da direzioni diverse da quella del percorso sorgente-detettore, influisce negativamente sulla qualità della TC.
Per ridurre significativamente gli artefatti prodotti dalla dispersione, quando si impiegano tubi radiogeni ad alta potenza, la soluzione più frequentemente adottata è stata, per decenni, quella di utilizzare la TC con fascio a ventaglio e la collimazione delle matrici dei detettori. Poiché l’acquisizione dei dati di una sola fetta alla volta e lo spostamento verticale del campione entro il fascio a ventaglio devono essere ripetuti centinaia di volte, questa tecnica TC richiede ore per essere completata, invece che minuti come nel caso della TC a fascio conico.
Prestazioni di elevata precisione, con bassa generazione di artefatti, della TC con fascio a ventaglio combinate alla velocità di ispezione della TC a fascio conico, fino a 100 volte più rapida
Migliore profondità di penetrazione del materiale con lo stesso livello di energia o identica qualità della TC, ma impiegando attrezzature meno complesse
Offre un significativo miglioramento non solo per materiali altamente disperdenti, quali acciaio e alluminio, ma anche per campioni in materiali compositi o multipli
Tecnologia GE proprietaria, disponibile esclusivamente come funzione opzionale per gli scanner mini e microTC phoenix v|tome|x c ed m, nonché per i pacchetti di aggiornamento dei sistemi m già installati